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測(ce)厚儀檢測的方法：无损檢測技術
无损檢測技術是一門理论(lun)上綜合性较強(qiang)，又非常重視(shi)實践環節的(de)很有发展前途的學科。它(ta)涉(she)及到材料的物理性質、產品設計、製(zhi)造工藝、断裂力學以及有限元(yuan)計(ji)算等诸多方面。
在化(hua)工、電子、電(dian)力(li)、金屬(shu)等行業(ye)中，為了實現對(dui)各類材料的保護(hu)或裝飾作用，通常要(yao)采(cai)用喷涂、有色金屬覆盖以(yi)及磷(lin)化、阳極氧(yang)化處(chu)理等方法，这樣，便(bian)出現了涂層、镀(du)層、敷層、贴(tie)層(ceng)或化學生成膜等概念，我們称之為“覆層”。覆層的厚度測量已成為金屬加工(gong)工業已用戶進行(xing)成品質量檢測*的zui重要的工序(xu)。是產品達到標準的*手段。
目前，國内外已普遍按統(tong)一的標準測(ce)定涂镀層厚度，覆層无(wu)损檢測的方法和儀器的選擇随着材料物理性質研究方面的逐渐進步而更加至關重要(yao)。
有關覆層无损檢測方法，主要有：楔切(qie)法、光截法、電解(jie)法(fa)、厚度差測量(liang)法(fa)、称重法、X射線莹光法、β射線(xian)反(fan)射法、電容(rong)法、磁性測量法及涡(wo)流測(ce)量法等。这些方法中除了后五種外(wai)大多都要损坏(huai)產品或產品表面，系有(you)损檢測，測量手段繁琐(suo)，速度慢，多適用於抽樣檢驗。X射線和β射線反射法可(ke)以无接触(chu)无损測量，但裝置复(fu)雜昂貴(gui)，測量(liang)範围小(xiao)。因有(you)放(fang)射源，故使用者必须遵守射(she)線防護規範(fan)，一般多用於各(ge)層金屬镀層的厚度測量。電容法一般仅在很薄导電體的絕缘覆層厚(hou)度測試上應用(yong)。磁性測量法及涡流測量(liang)法(fa)，随着技術的日益(yi)進(jin)步，特別是近(jin)年來引入微處理機技術后(hou)，測厚儀向微型(xing)、智(zhi)能型、多功能、高精度、實用化方面邁進(jin)了一大步。測量的分辨率(lv)已(yi)達0.1μm，精度可達到1％。又(you)有適用範围廣，量程宽(kuan)、操(cao)作簡便、价廉等特點(dian)。是工(gong)業和科研使用zui廣(guang)泛(fan)的儀器。采用无损檢(jian)測方法測厚(hou)既不破坏覆層也不破坏基材，檢測(ce)速度快(kuai)，故能使大(da)量的檢測工作經濟地進(jin)行。